ID:
A000760
Durata (ore):
48
CFU:
6
Url:
INGEGNERIA ELETTRONICA PER L'INDUSTRIA/PERCORSO COMUNE Anno: 1
Anno:
2023
Dati Generali
Periodo di attività
Primo Semestre (25/09/2023 - 15/12/2023)
Syllabus
Obiettivi Formativi
Fornire le conoscenze relative alle misure per la qualità con particolare riferimento alle applicazioni basate sull’impiego dei sistemi per la metrologia dimensionale, di rilievo di forma e di visione per l’ispezione automatica dei processi produttivi, comprendendo le principali problematiche e le modalità operative del settore.
Acquisire le capacità di utilizzare i sistemi di gestione e controllo della qualità in ambito produttivo, di progettare soluzioni di misura specifiche, di interpretare i dati misurati e di trarne conclusioni.
Favorire il raggiungimento di un elevato grado di autonomia di giudizio nella scelta degli strumenti e delle metodologie più adatte alla soluzione dei problemi ingegneristici affrontati.
Sviluppare il lessico specifico per poter comunicare adeguatamente ed efficacemente in un contesto altamente interdisciplinare.
Sviluppare le basi necessarie a consentire la risoluzione di complessi problemi misuristici e il costante aggiornamento nell’ambito delle metodologie e della strumentazione applicata nel settore delle misure per la qualità.
Prerequisiti
Principi di elaborazione e acquisizione dei segnali, linguaggi di programmazione.
Metodi didattici
Il corso è costituito da lezioni frontali in aula o in laboratorio e da esercitazioni in aula o in laboratorio, guidate dal docente, singole o di gruppo, per il riscontro dei concetti trasferiti e per il raggiungimento degli obiettivi previsti. Tutte le attività sono svolte con supporto di slide, video e lavagna.
Verifica Apprendimento
L'esame prevede una prova in itinere scritta e la discussione di un elaborato progettuale. La prova in itinere scritta è costituita da domande a risposta aperta o da quesiti a risposte multiple sugli argomenti della prima metà dell’insegnamento. È valutata in trentesimi e si ritine superata se il voto non è inferiore a 18/30. È svolta a circa metà dell’insegnamento (in una precisa data che viene concordata durante le lezioni con gli studenti) e ha validità l’intero anno accademico. Invece, la discussione dell’elaborato progettuale è un colloquio orale incentrato sulla descrizione di un progetto sperimentale basato su uno o più argomenti dell’insegnamento. È valutata in trentesimi e si ritine superata se il voto non è inferiore a 18/30. È svolta durante la sessione dell’esame.
Entrambe le prove hanno il duplice scopo di verificare il livello di conoscenza e di comprensione dei contenuti dell’insegnamento e di valutare la capacità di apprendimento, l'abilità comunicativa, le proprietà di linguaggio scientifico, le facoltà logico-deduttive e l'autonomia di giudizio acquisite dallo studente.
Il voto finale è espresso in trentesimi ed è determinato come media aritmetica dei voti parziali conseguiti nelle due prove.
Coloro i quali non hanno sostenuto o non hanno superato la prova in itinere scritta dovranno svolgere una prova scritta, contestualmente alla discussione dell’elaborato progettuale, con le stesse modalità della prova in itinere scritta. Anche in questo caso, il voto è espresso in trentesimi ed è determinato come media aritmetica dei voti parziali conseguiti nelle due prove.
Entrambe le prove hanno il duplice scopo di verificare il livello di conoscenza e di comprensione dei contenuti dell’insegnamento e di valutare la capacità di apprendimento, l'abilità comunicativa, le proprietà di linguaggio scientifico, le facoltà logico-deduttive e l'autonomia di giudizio acquisite dallo studente.
Il voto finale è espresso in trentesimi ed è determinato come media aritmetica dei voti parziali conseguiti nelle due prove.
Coloro i quali non hanno sostenuto o non hanno superato la prova in itinere scritta dovranno svolgere una prova scritta, contestualmente alla discussione dell’elaborato progettuale, con le stesse modalità della prova in itinere scritta. Anche in questo caso, il voto è espresso in trentesimi ed è determinato come media aritmetica dei voti parziali conseguiti nelle due prove.
Testi
-E.O. Doebelin, Strumenti e metodi di misura, McGraw-Hill.
-G. Malagola, Metrologia dimensionale. Teoria e procedure di taratura, Esculapio.
-R. Marangoni, Le immagini digitali, Hoepli informatica.
-B. Jähne, Digital Image Processing, Springer.
-J.C. Russ, Image Processing Handbook, Springer CRC.
-G. Malagola, Metrologia dimensionale. Teoria e procedure di taratura, Esculapio.
-R. Marangoni, Le immagini digitali, Hoepli informatica.
-B. Jähne, Digital Image Processing, Springer.
-J.C. Russ, Image Processing Handbook, Springer CRC.
Contenuti
-MISURE E QUALITÀ: Generalità. I controlli di qualità nell’industria. Total Quality Management (TQM). Quadro normativo di riferimento.
-INCERTEZZA DI MISURA E QUALITÀ: Riferibilità metrologica dei sistemi di misura. Stima dell’incertezza di misura.
-METROLOGIA DIMENSIONALE E RILIEVO DI FORMA: Caratteristiche metrologiche. Macchine a misura di coordinate. Sistemi di scansione 3D. Tastatori per misura punto su punto.
-SISTEMI DI VISIONE (MACHINE VISION): Introduzione ai sistemi di visione per l’ispezione automatica. Telecamere (visibile, NIR, MWIR). Sensori (CCD, CMOS, a singolo detector, fotovoltaici, microbolometrici). Ottiche. Sistemi di illuminazione. Schede di acquisizione delle immagini (frame grabber). Interfacce dati.
-ANALISI ED ELABORAZIONE DELLE IMMAGINI: Immagini digitali (formati, tecniche di compressione). Filtri, convoluzione e maschere. Riconoscimento di forme e oggetti.
-ESERCITAZIONI IN LABORATORIO: Progetto e realizzazione di casi di studio. Impiego di piattaforme hardware di prototipazione.
-INCERTEZZA DI MISURA E QUALITÀ: Riferibilità metrologica dei sistemi di misura. Stima dell’incertezza di misura.
-METROLOGIA DIMENSIONALE E RILIEVO DI FORMA: Caratteristiche metrologiche. Macchine a misura di coordinate. Sistemi di scansione 3D. Tastatori per misura punto su punto.
-SISTEMI DI VISIONE (MACHINE VISION): Introduzione ai sistemi di visione per l’ispezione automatica. Telecamere (visibile, NIR, MWIR). Sensori (CCD, CMOS, a singolo detector, fotovoltaici, microbolometrici). Ottiche. Sistemi di illuminazione. Schede di acquisizione delle immagini (frame grabber). Interfacce dati.
-ANALISI ED ELABORAZIONE DELLE IMMAGINI: Immagini digitali (formati, tecniche di compressione). Filtri, convoluzione e maschere. Riconoscimento di forme e oggetti.
-ESERCITAZIONI IN LABORATORIO: Progetto e realizzazione di casi di studio. Impiego di piattaforme hardware di prototipazione.
Lingua Insegnamento
ITALIANO
Corsi
Corsi
INGEGNERIA ELETTRONICA PER L'INDUSTRIA
Laurea Magistrale
2 anni
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Persone
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